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根據上述試驗，可以作出如下結論：一旦在一支穩定的溫度計的整個工作范圍內確定出滯環，那么所有對于平均的R-T曲線的偏差都落入這個滯環以內，不管在這個溫度范圍內溫度計經受什么樣的循環。早期的試驗已經表明這可能是正確的，但當時沒有做一些有控制的試驗，設法把這種性能進一步定量地表示出來。
1000℃退火后，從A型、B型和C型結構中各選取一支有代表性的元件，進一步側量回差。被試元件和標準鉑電阻溫度計都裝在液體槽的銅塊里面，槽的溫度按要求變化，當銅塊溫度足夠穩定時就進行分度.把元件從一個槽轉移到另一個槽盡蚤在室溫進行。這一組試驗，沒能獲得一85℃到- 196℃范圍的分度數據。但下面我們將看到，這個溫度范圍是特別令人感興趣的，打算將來做試驗，研究元件在低溫時的性能。
元件的實際特性是相當復雜的，而且由于樣品尺寸小，要作出概括性結論就不大有把握。然而，有一個令人奇怪的發現，那就是觀測到三個元件的滯環B都比預料的小得多。我們對每個元件的滯環逐個確定其大偏差，然后重繪在圖上。從元件A-5的曲線明顯地看出，隨著平均溫度的升高，回差要減小。盡管從元件B-1和C-1的曲線不能得出那么明角的結論，但趨勢似乎是相同的.由此看來，在應用鉑電阻溫度計時，只要低溫度超過200t，回差就不會成為問題，原因是通過退火消除鉑絲的晶格缺陷時，可能足以把溫度變化所引起的應力也消除掉。在這些試驗中，溫度變化是比較緩慢的(滯環B是8h)，在任何溫度都沒有觀側到電阻明顯地隨時間變化。然而可以想見，要是退火正在進行中，發生這樣的變化是可能的。將來打算做高溫試驗，研究這種影響。
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